光學(xué)測量顯微鏡是一種基礎(chǔ)的精密光學(xué)測量儀器。采用透、反射的方式對工件長度和角度作精密測量。工作臺除作X、Y坐標(biāo)的移動外，還可以作360度的旋轉(zhuǎn)，是一種理想的固定場所小型精密測量儀器。
光學(xué)測量顯微鏡的測量步驟如下：
1、工作距調(diào)整:可根據(jù)被測物體的厚度，擰松支柱套上的固緊手輪，按需要升降支架，合適后固緊手輪，并檢將輔助支承座緊座緊靠支柱套后固緊。
2、目距調(diào)整:用雙手稍扳動左右普柔棱鏡座來改變目距，以適于雙眼觀察。
3、焦距調(diào)整:轉(zhuǎn)動升降手輪，使儀器頭部上下移動。當(dāng)觀察物像出現(xiàn)后，輕微轉(zhuǎn)動，直到右眼的像較清晰為止。
4、視度調(diào)節(jié):旋轉(zhuǎn)左目鏡上的視度調(diào)節(jié)圈，使左眼的像與右眼的像同樣清晰。
倍率的調(diào)整:本儀器設(shè)計有二種不同的倍數(shù)，轉(zhuǎn)換變倍輪以改變倍數(shù)。
5、測量:
(1)用X軸( 或Y軸)對準(zhǔn)被測物邊緣，使X軸(或Y軸)與被告測物的外邊緣相外切;
(2)記錄測微頭的數(shù)據(jù);
(3)移動X軸(或Y軸)與被測物內(nèi)邊緣相內(nèi)切，這時再記錄測微頭的數(shù)據(jù)，將移動后的數(shù)據(jù)減移動前的數(shù)據(jù)即是我們所測的數(shù)。
該設(shè)備主要運(yùn)用于錄像磁頭、大規(guī)模集成電路線寬以及其它精密零件的測試。可廣泛用于電子行業(yè)和細(xì)小精密零件檢測、裝配、修理；印刷線路板，印刷絲網(wǎng)板的檢定，還可以用于生物解剖和珠寶鑒定等。
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